Выбор читателей
Популярные статьи
Двухфотонный микроскоп является разновидностью мультифотонного флуоресцентного микроскопа . Его преимущества по сравнению с конфокальным микроскопом - большая проникающая способность и низкая степень фототоксичности .
Двухфотонный микроскоп был впервые сконструирован Винфредом Денком в лаборатории В. В. Вебба в Корнеллском университете . Он скомбинировал идею двухфотонного возбуждения с лазерным сканированием.
Процесс двухфотонного возбуждения происходит следующим образом: два фотона , обладающие низкой энергией, возбуждают флюорофор (способную к флюоресценции молекулу или часть молекулы) в течение одного квантового события. Результатом этого возбуждения является последующее испускание возбужденными молекулами флюоресцентного фотона. Энергия флуоресцентного фотона больше энергии возбуждающих фотонов.
Вероятность того, что оба фотона возбуждения будут поглощены одной молекулой, очень мала. Поэтому необходим большой поток возбуждающих фотонов, который можно получить при помощи лазера, испускающего фотоны с большой частотой следования импульсов (80 МГц). Наиболее часто используемые флюорофоры имеют спектр возбуждения в промежутке 400-500 нм, в то время как длина волны возбуждающего лазера находится в промежутке 700-1000 нм (область инфракрасных волн). Если флюорофор поглотит одновременно два фотона, то он получит достаточно энергии, чтобы перейти в возбужденное состояние. Далее возбужденный флюорофор испустит один фотон (в видимой части спектра), длина волны которого зависит от типа флюорофора.
Поскольку для того, чтобы флюорофор перешёл в возбуждённое состояние, необходимо поглощение двух фотонов, вероятность испускания флюорофором вторичного фотона пропорциональна квадрату интенсивности возбуждения. Поэтому флуоресценция будет сильнее в случае, когда луч лазера четко сфокусирован, а не рассеян. Максимальная флуоресценция наблюдается в фокальном объёме (объёме, где сфокусирован луч лазера) и демонстрирует резкое уменьшение в области вне фокуса.
В двухфотонном микроскопе луч инфракрасного лазера сфокусирован с помощью собирающей линзы объектива . Обычно используется высокочастотный 80 МГц сапфировый лазер, испускающий импульс с длительностью 100 фемтосекунд, обеспечивающей высокую плотность фотонного потока, которая необходима для двухфотонного поглощения.
Свет, испускаемый флюоресцирующим образцом, усиливается с помощью высокочувствительного фотоумножителя . Поскольку приёмник света является одноканальным, наблюдаемая в данном фокальном объёме интенсивность света формирует один пиксел изображения. Для того чтобы получить двухмерное пиксельное изображение, производится сканирование в фокальной плоскости образца.
Использование инфракрасного света для возбуждения флюорофора в исследуемых тканях имеет свои преимущества :
Но есть и некоторые недостатки:
Многофункциональный высокопроизводительный световой конфокальный и лазерный конфокальный микроскоп OPTELICS HYBRID обладает целым рядом преимуществ: 2 вида конфокальной оптики в одном микроскопе, интерферометр на фазовом сдвиге, возможность наблюдения в дифференциально интерференционном контрасте, измерение толщин тонких пленок методом спектроскопической рефракции.
Скачать брошюру .
Измерения ширины и шага
Идеально подходит для измерения ширины полупроводниковых паттернов. Лучшая в отрасли точность и повторяемость достигается с помощью уникальной оптики и детекторов.
Измерение шероховатости поверхности
Измерение шероховатости поверхности в соответствии с параметрами JIS и ISO. Высокое разрешение измерения шероховатости возможно для любого типа образцов благодаря бесконтактному методу измерений.
Анализ геометрических свойств
HYBRID анализирует более 20 свойств, включая площадь, объем, положение центра тяжести и т.д.
Вывод результата анализа доступен в формате электронной таблицы.
2D измерения
Измерение 2 мерных функций, таких как длина, угол, радиус и т.п.
Измерение перепадов высот
Измерение разницы высот в указанной пользователем области
Измерение толщины пленки (XZ поперечные измерения)
Толщина пленки получают путем оптических вычислений расстояния между поверхностью пленки и поверхности подложки с использованием отраженного света.
Пример: PI пленки на подложке.
Управление данными результатов экспериментов
Основной принцип оптических интерференционных измерений
профили поверхности измеряются в нанометровом разрешении от анализа моделей интерференции, создаваемых интерференцией объективов. Свет разбивается на два массива с помощью светоделителя внутри объектива. Один из массивов отражается поверхностью образца, в то время как другой массив переходит к референтному зеркалу и отражается.
Оба отраженных луча накладываются на линзу объектива для формирования интерференционных картин, вызванных оптическими разности хода. По мере того как инструмент настроен так, что он не имеет оптической разности хода в положении фокуса, интерференционные полосы указывают на впадины и выпуклости на поверхности образца.
Вертикально-сканировующая интерферометрия белого света
Интерференционные полосы имеют сильный контраст на плоскости в фокусе. Пик яркости в интерференционной полосы определяется для измерения высоты с надежностью конфокальной микроскопии.
Интерферометрия сдвига фазы
Измерение высоты в Ангстрем масштабе степени точности измерений от фазового анализа интерференционных полос в одной длине волны света (546 нм), которые получаются, поскольку фаза изменяется в несколько этапов. Диапазон измерений ограничен в пределах половины длины волны, но время измерения составляет несколько секунд.
Принцип спектроскопической рефлектометрии
Толщина пленки может быть измерена с использованием спектра отражения, полученного с помощью спектроскопической рефлектометрии после настройки параметров с оптической имитационной моделью.
Отраженный спектр показывает зависимость между абсолютной отражательной способностью и длиной волны. Она изменяется в зависимости от толщины пленки и оптических констант.
Абсолютный коэффициент отражения определяется интерференцией тонкой пленки, вызванной многократным отражением света между поверхностью пленки и подложки.
Шесть длин волн выбраны из белого света для получения отраженного изображения для каждого из них и вычисления отражательной способности. Оптические константы (показатель преломления и коэффициент экстинкции) для тонких пленок и подложек используются в оптической модели для расчета абсолютного коэффициента отражения от коэффициента Френеля и измерения толщины пленки после настройки параметров.
Высокая точность измерений при малом увеличении
С помощью наших специальных объективов, стало возможным проводить высоко точные измерения при малом увеличении, что трудно достичь при стандартном CLSM.
Объектив разработан специально для широкого поля зрения и высокой точности измерений,
High-NA (высокое значение цифровой апертуры) линзы объектива с увеличением 5x, 10x, 20x.
Широкий FOV и высокая точность
Владельцы патента RU 2285279:
Изобретение относится к оптическим устройствам для измерения оптической разности фаз методами интерферометрии, измерения поляризации света, а также для управления интенсивностью, фазой и поляризацией излучения. Микроскоп содержит источник лазерного излучения, на пути следования луча которого последовательно установлены светоделительный элемент, сканирующая система с двумя зеркальными дефлекторами и объектив, а на пути следования луча, отраженного от исследуемого образца и светоделительного элемента, размещен приемник излучения с системой обработки сигнала. Перед светоделительным элементом установлен преобразователь поляризации излучения вкруговую, а между светоделительным элементом и сканирующей системой размещен лучеразводящий элемент, преобразующий входной пучок излучения в два пучка с ортогональными направлениями поляризации и пространственным смещением, при этом в качестве приемника излучения применен измеритель мощности компонент скрещенных поляризаций излучения. Изобретение позволяет улучшить соотношение сигнал-шум за счет применения дифференциального контраста, а также повысить чувствительность к слабым перепадам оптической плотности объектов и увеличить линейность измерения высоты профиля исследуемого объекта. 8 з.п. ф-лы, 1 ил.
Изобретение относится к оптическим устройствам для измерения оптической разности фаз методами интерферометрии, измерения поляризации света, а также для управления интенсивностью, фазой и поляризацией излучения.
Известны растровые оптические микроскопы с оптическими схемами, реализующими сканирование луча по углу без смещения в плоскости входного окна объектива в режиме на отражение (Дюков В.Г. и Кудеяров Ю.А. «Растровая оптическая микроскопия», Москва, 1991, С.134).
Этот микроскоп включает источник лазерного излучения, на выходе которого установлены расширитель и светоделительная пластина. На пути луча, прошедшего через светоделительную пластину, установлены два зеркальных дефлектора сканирующей системы и объектив, а на пути луча, отраженного от исследуемого объекта и светоделительной пластины, установлен фотоприемник. Перед фотоприемником расположен пространственный фильтр и вводимый спектральный фильтр. Между дефлекторами добавлена телецентрическая система из двух линз.
Микроскоп оснащен цифровой техникой для обработки изображений, а также видеокамерой. Такой комбинированный прибор позволяет исследовать микрообъекты в различных областях науки и техники.
Известна конфокальная система для получения изображения, содержащая сканирующий многоцветный лазер и микроскоп (патент США №5127730, US/C1 356-318, MKU 5 G 01 №21/64). Эта система позволяет с помощью фотоумножителей получить изображение, по которому можно получить представление о свойствах исследуемого образца, подвергнутого воздействию красителей.
Известен конфокальный сканирующий микроскоп (патент США №5032720, US C1 250-236, MKU 5 G 02 B 21/06), выбранный нами в качестве прототипа, который имеет сканирующую систему с двумя дефлекторами. Каждый из этих дефлекторов сканирует отклоняющие лучи во взаимно перпендикулярных плоскостях. Система зеркал расположена между дефлекторами сканирующей системы таким образом, чтобы передать луч от одного дефлектора на другой и на микроскоп с объективом. Свет, отраженный образцом, попадает на объектив, на дефлекторы и систему зеркал до момента попадания на детектор. Апертура находится перед детектором и блокирует любой луч, который выходит из точек, пространственно удаленных от лучевого пятна. Однако конфокальные лазерные микроскопы, описание в аналогах и прототипе в отдельных случаях применения имеют недостаточно высокое соотношение сигнал-шум, что, например, важно при исследовании биологических объектов.
Техническим результатом предложенного изобретения является улучшение соотношения сигнал-шум за счет применения дифференциального контраста, кроме того достигнута более высокая чувствительность к слабым перепадам оптической плотности объектов и увеличена линейность измерения высоты профиля исследуемого объекта.
Этот результат достигается усовершенствованием известного лазерного сканирующего микроскопа, содержащего источник лазерного излучения, на пути следования луча которого последовательно установлены светоделительный элемент, сканирующая система с двумя зеркальными дефлекторами и объектив, а на пути луча, отраженного от исследуемого и светоделительного элемента, размещен приемник излучения с системой обработки сигнала.
Усовершенствование заключается в том, что перед светоделительным элементом установлен преобразователь плоскополяризованного луча в луч с круговой поляризацией, а между светоделительным элементом и сканирующей системой размещен лучеразводящий элемент, преобразующий входной пучок излучения в два пучка с ортогональными направлениями поляризации и пространственным смещением, при этом в качестве приемника излучения применен измеритель мощности компонент скрещенных поляризаций излучения.
В качестве преобразователя поляризации излучения может быть использована четвертьволновая пластина для длины волны используемого излучения.
Преобразователь излучения может быть размещен в источнике лазерного излучения.
Предусмотрены также следующие усовершенствования:
Лучеразводящий элемент выполнен в виде пластины из двулучепреломляющего материала;
Измеритель мощности состоит из призмы Волластона и двух фотопримников для раздельного измерения двух компонент, скрещенных поляризаций излучения;
Между светоделительным элементом и измерителем мощности размещен телескоп с регулируемой диафрагмой, установленной в его внутреннем фокусе;
Между двумя дефлекторами сканирующей системы введен телескоп, передний и задний фокусы которого размещены на осях качания дефлекторов;
Между сканирующей системой и объективом расположен дополнительный телескоп, один из фокусов которого совпадает с осью качания размещенного рядом с ним дефлектора сканирующей системы, а второй совпадает с задним фокусом объектива;
Между источником лазерного излучения и преобразователем поляризации излучения установлена система регулировки контроля мощности источника лазерного излучения.
Сущность изобретения поясняется прилагаемым чертежом, на котором показана структурная оптическая схема лазерного сканирующего микроскопа.
Лазерный сканирующий микроскоп содержит источник лазерного излучения 1, в качестве которого могут быть использованы непрерывный газовый (например, лазер гелий-неоновый, аргоновый, криптоновый, аргон-криптоновый и другие). На пути луча газового лазера установлен пленочный поляризатор 2 (поляризационный фильтр), предназначенный для регулирования мощности излучения, призма Глана-Томсона 3 для улучшения его поляризационных характеристик и делительная пластина 4 для отщепления части луча (около 5%) с целью осуществления контроля мощности излучения с помощью фотоприемника 5.
Далее по ходу основного пучка лазера установлен преобразователь поляризации излучения, в частности четвертьволновая пластина для данной волны излучения. После преобразователя поляризации излучения установлены светоделительный элемент 8, лучеразводящий элемент 9, сканирующая система, включающая два зеркальных дефлектора 10, 11, объектив 12 и столик 13 для размещения исследуемого объекта. Лучеразводящий элемент 9 выполнен в виде пластины из двулучепреломляющего материала и размещен во внутреннем фокусе телескопа 14.
Ось качания дефлектора 10 совпадает с передним фокусом телескопа 14, который совпадает с передним фокусом телескопа 15.
Между дефлекторами 10 и 11 расположен телескоп 15 для осуществления сопряжения точек развертки луча в двух взаимоперпендикулярных направлениях. Ось качания дефлектора 11 находится в заднем фокусе телескопа 15. В случае необходимости для последующего увеличения диаметра лазерного луча, а также для переноса точки угловой развертки сканирования в задний фокус объектива 12, между дефлектором 11 и объективом 12 установлен дополнительный телескоп 16. Один из фокусов телескопа 16 совпадает с осью качания дефлектора 11, а другой - с задним фокусом объектива 12.
Светоделительный элемент 8 служит для перенаправления отраженного от исследуемого объекта луча в измеритель мощности, который состоит из призмы Волластона 17 и двух фотоприемников 18, 19 для раздельного измерения интенсивности или мощности компонент ортогональных поляризаций излучения. Фотоприемники 18 и 19 служат для преобразования оптической мощности в измеряемый электрический сигнал.
Светоделительный элемент 8 также может быть использован для дополнительного контроля мощности излучения с помощью фотоприемника 20. Для реализации конфокального контраста перед измерителем мощности установлена регулируемая диафрагма 21, размещенная во внутреннем фокусе телескопа 22.
Пленочный поляризатор 2, призма Глана-Томсона 3 и система регулировки мощности источника лазерного излучения, включающая фотоприемник 5 и делительную пластину 4, предусмотрены для коммерчески доступных лазеров. В случае наличия лазеров со световыми пучками удовлетворительного качества эти элементы не требуются.
Работает лазерный сканирующий микроскоп следующим образом.
Плоскопараллельный частично поляризованный луч газового лазера 1 проходит пленочный поляризатор 2 и призму Глана-Томсона 3, приобретая высокую степень поляризации 1:1000 и выше.
Плоскости поляризации 1 и 3 совпадают, тогда как положение плоскости поляризации 2 может изменяться путем его вращения. Таким образом интенсивность излучения может варьироваться от максимума до предельно малых величин.
Делительная пластина 4 отводит небольшую часть луча (около 5%) на фотодиод 5 для измерения и управления мощностью излучения.
Фазовая пластина 6 преобразует плоскополяризованный луч лазерного излучения в луч с круговой поляризацией. Это необходимо для перевода поляриметра в квазилинейный режим измерения фазы.
Делительная пластина 8 расщепляет входной луч на два с одинаковой интенсивностью излучения. При этом один луч используется для проведения измерений, а второй может использоваться для дополнительного контроля мощности.
Блок, состоящий из фазовой пластины 9 и телецентрической системы линз телескопа 14, предназначен для расщепления поляризованного по кругу луча на два линейно поляризованных со скрещенными компонентами поляризации. При этом за счет внешней конической рефракции в фазовой пластине 9 происходит пространственное смещение необыкновенного луча, зависящее от толщины пластины, ее углового положения, ориентации оптической оси и фокусного расстояния линз.
Телецентрическая система линз телескопа 15 переносит фокус угловой развертки луча из точки, лежащей на оси дефлектора 10, в точку, лежащую на оси дефлектора 11, оставляя остальные параметры луча неизменными.
Дефлектор 11 обеспечивает отклонение луча в плоскости, перпендикулярной плоскости угловой развертки дефлектора 10, завершая таким образом формирование углового растра.
Таким образом, плоскопараллельный луч с расщепленными компонентами поляризации виртуально испускается из заднего фокуса объектива 12 под разными углами, определяемыми положениями дефлекторов 10 и 11. Далее луч фокусируется на поверхности исследуемого объекта, причем геометрический фокус необыкновенного луча может быть пространственно смещен относительно фокуса обыкновенного луча за счет расщепления в фазовой пластине 9.
Отраженный от объекта луч проходит обратно по тому же самому пути, что и входной луч, вплоть до делительной пластины, где он разделяется на два луча равной мощности. Один из лучей отклоняется на дифференциальный фотоприемник, где происходит измерение его параметров.
Фотоприемник состоит из призмы Волластона 17, расщепляющей входной луч на два со скрещенными направлениями линейной поляризации, и двух фотодиодов, измеряющих интенсивности этих компонентов. В зависимости от угловой ориентации фазовой пластины 9 и взаимной ориентации фазовой пластины 9 и призмы Волластона 17 реализуются несколько способов получения информации об исследуемом объекте, так называемых контрастов.
Для осуществления амплитудного контраста фазовая пластина 9 находится в положении, при котором расщепление луча не происходит, а сигналы фотодиодов складываются и сумма передается системе построения изображения.
Предложенное устройство позволяет осуществить дифференциальный фазовый контраст и в результате увеличить отношение сигнал/шум за счет интегрирования сигналов при построении реального профиля объекта из дифференциальных сигналов, что приводит также к повышению чувствительности к слабым перепадам оптической плотности объектов и увеличению линейности измерения высоты профиля исследуемого объекта.
1. Лазерный сканирующий микроскоп, содержащий источник лазерного излучения, на пути следования луча которого последовательно установлены светоделительный элемент, сканирующая система с двумя зеркальными дефлекторами и объектив, а на пути следования луча, отраженного от исследуемого образца и светоделительного элемента, размещен приемник излучения с системой обработки сигнала, отличающийся тем, что перед светоделительным элементом установлен преобразователь плоскополяризованного луча в луч с круговой поляризацией, а между светоделительным элементом и сканирующей системой размещен лучеразводящий элемент, преобразующий входной пучок излучения в два пучка с ортогональными направлениями поляризации и пространственным смешением, при этом в качестве приемника излучения применен измеритель мощности компонент скрещенных поляризаций излучения.
2. Лазерный сканирующий микроскоп по п.1, отличающийся тем, что преобразователем поляризации излучения является четвертьволновая пластина для длины волны используемого излучения.
3. Лазерный сканирующий микроскоп по пп.1 и 2, отличающийся тем, что преобразователь поляризации излучения размещен в источнике лазерного излучения.
4. Лазерный сканирующий микроскоп по п.1, отличающийся тем, что лучеразводящий элемент выполнен в виде пластины из двулучепреломляющего материала.
5. Лазерный сканирующий микроскоп по п.1, отличающийся тем, что измеритель мощности состоит из призмы Волластона и двух фотоприемников для раздельного измерения двух скрещенных компонент поляризации излучения.
6. Лазерный сканирующий микроскоп по п.1, отличающийся тем, что между светоделительным элементом и измерителем мощности размещен телескоп с регулируемой диафрагмой, установленной в его внутреннем фокусе.
Вновь сконструированный многопараметрический микроскоп фирмы Leitz позволяет проводить одновременно анализ поглощения гемоглобина эритроцитов и флуоресценции меченных ФИТЦ клеток, содержащих гемоглобин S, причем можно анализировать миллионы клеток. Система (LEYTAS), соединенная с анализирующим изображение компьютером, сначала фокусируется и считает все эритроциты вдоль одного ряда полей зрения, используя нижнее освещение фиолетовым светом (415 нм). После сканирования по одной линии длиной 8 см освещение по команде компьютера меняется с проходящего на падающее, и все поля зрения вдоль линии сканирования анализируются повторно, причем сканирование для определения флуоресцирующих объектов ведется в соответствии с кривой ранее определенных положений фокуса. Для каждого определенного объекта его флуоресцентное и поглощающее изображение хранятся в памяти в виде уровней серого. Из памяти изображение выводится на телевизионный экран, что позволяет визуально оценить выбранные объекты (рис. 6.9). От каждого подозрительного сигнала в памяти сохраняется одно флуоресцентное и два поглощающих изображения. Визуальное сравнение флуоресцентного и поглощающего изображений при большом увеличении позволяет определить природу данного сигнала. Таким образом артефакты можно отличить от заслуживающих внимания клеток. То, что сигнал действительно соответствует мутантной клетке, подтверждается с помощью микроскопа. Поскольку все координаты сохраняются в памяти, то выставление клеток производится автоматически. Большинство сигналов являются артефактами. На рис. 6.9 только кадр № 79 относится, вероятно, к мутантной клетке , что можно было бы подтвердить с помощью микроскопа.
Рис. 6.9. Выявление с помощью системы LEYTAS подозрительных изображений в препарате, окрашенном меченной ФИТЦ сывороткой против S-гемоглобина. Эти изображения выводятся на монитор. Слева направо: номер кадра, его флуоресцентное изображение и изображение того же кадра, формирующееся за счет поглощения при большем увеличении
Другие антитела против мутантных эритроцитов были использованы Лэнглойсом с соавт. , определявшими мутантные клетки с помощью проточной цитометрии. Можно предположить, что частота выявленных в этой работе мутантов была значительно выше, чем частота встречаемости клеток с HbS.
Помимо определения редких мутантов, анализ изображения может быть также применен для определения редких раковых клеток в период ремиссии, а также инфицированных вирусом клеток на ранней стадии инфекционного заболевания.
Обычно в микроскопии изображения очень мелких структур получают путем освещения всего препарата и увеличения изображения объективом. При использовании вместе с микроскопом телевизионной камеры принцип получения изображения не изменяется - изображение также создается объектом, и лишь затем сканируется телекамерой. Фактически все методы сканирования применялись в основном в весьма ограниченной области микрофотометрии - для определения величин поглощения, флуоресценции или отражения. Недавно техника сканирования была применена для создания высококачественных изображений с помощью мощных и хорошо сколлимированных лазерных пучков. В оптической лазерной сканирующей микроскопии объект не освещается целиком, а сканируется шаг за шагом . В каждой освещенной точке измеряется прошедший, отраженный или испускаемый свет. Изображение создается за счет накопления результатов этих измерений для каждой точки после их аналоговой или цифровой обработки, как матрица в памяти компьютера.
В приборе, имеющемся в нашей лаборатории (Zeiss, ФРГ), сканирование выполняется с помощью гальванометров с сервоприводами. Время сканирования сравнительно короткое (2 с на поле из 512x512 пикселов). Процесс сканирования контролируется микропроцессором. В качестве фотодетектора используется ФЭУ. Его сигнал проходит через блок аналоговой обработки, который контролирует яркость и контрастность.
После оцифровки этот сигнал попадает в буферную память, куда он записывается с видеочастотой. Соответственно стационарное изображение на мониторе получается при условии, что во время считывания столик стоит неподвижно. Плавно меняющееся увеличение может быть получено с помощью блока переменного увеличения. Сканирующий лазерный микроскоп можно использовать как с обычным, так и с лазерным источником света. С помощью лазера можно получить как падающее освещение (для отражения и флуоресценции), так и проходящее освещение (для поглощения, фазового или дифференциального интерференционного контраста). В качестве обычного источника света можно использовать только лампу накаливания, снабженную световодом. Для обеспечения лучшей фокусировки и возможностей поиска на препарате, а также для исследования препаратов с двойным окрашиванием, мы добавили к лазерному сканнеру обычный блок эпиосвещения. Принципиальными преимуществами лазерного сканирования являются:
1) низкий уровень аутофлуоресценции в оптическом пути, который достигается благодаря точечному освещению;
2) высокая чувствительность микроскопа, возникающая вследствие использования мощного лазерного света, сфокусированного в точке. Можно наблюдать даже слабо флуоресцирующие ДНК-зонды;
3) использование оптики с малым увеличением. Интенсивность флуоресценции достаточно высока, что позволяет работать с объективом Х2,5. Это является важным преимуществом при проведении исследований мозга;
4) низкий уровень выцветания, так как время освещения каждой точки очень короткое;
5) возможность проведения многофакторного анализа;
6) последовательное сканирование на разных уровнях при конфокальной сканирующей микроскопии. Данный метод применяется в тех исследованиях, где надо работать с очень слабой флуоресценцией,
например при проведении реакции гибридизации. Лазерная сканирующая микроскопия много дала также для исследований мозга, поскольку она позволяет использовать оптику с малым увеличением, необходимую при исследовании связей в нервных сетях. На рис. 6.10 представлены нервные клетки из гиппокампа крысы. Эти клетки были маркированы для выявления специфических молекул. По сравнению с нормальной флуоресцентной микроскопией контраст между изображением и фоном, получаемый с помощью лазерного сканирования, намного выше: здесь остается только очень низкий уровень нежелательного фонового свечения. С помощью лазерного сканирования реакцию можно также оценить количественно, поскольку данная техника позволяет установить порог между клетками и фоном для улучшения контраста изображения, получаемого с препаратов с очень низким содержанием продукта реакции.
Кроме того, лазерное сканирование открывает новые возможности для исследования с помощью световой микроскопии без дополнительного окрашивания ультратонких срезов, изготовленных для электронной микроскопии .
Рис. 6.10. Флуоресцентное изображение гиппокампа крысы, полученное с помощью лазерного сканирующего микроскопа. Срезы были обработаны флуоресцентно меченными антителами к гуанинмонофосфату. Увеличение: объектив Х40; окуляр ХЮ. Шкала 100 мкм.
1. Yong, M. R. (1961) Quart. J. Microsc. Sci., 102, 419.
2. Price, Z. H. (1965) Am. J. Med. Technol., 31, 45.
3. Rost, F. W. (1972) In Histochemistry, Theoretical and Applied. Everson Pearse, A. G (ed.), Churchill Livingstone, Edinburgh, Vol. 2, p. 1171,
4. Siegel, J. I. (1982) Int. Lab., 12, 46.
5. Ploem, J. S. and Tanke, H. (1987) Introduction to Fluorescence Microscopy. Royal Microscopical Society, University Press, Oxford.
6. Lansing Taylor, D., Waggoner, A. S., Murphy, R. F., Lanni, F. and Birge, R. R. (1986) Applications of Fluorescence in the Biomedical Sciences. Alan Liss, New York.
7 Patzett, W. (1972) Lietz-Mitt. Wiss. und Techn., Bd V, Nr 7, 226.
8 Giloh, H. and Sedat, J. W. (1982) Science, 217, 1252.
9 Johnson, G. D. and de C. Nogueira Araujo, G. M. (1981) J. Immunol. Methods, 43, 349.
10 Ploem, J. S. (1967) Zeitschrift Wiss. Microskopie, 68, 129.
11 Nairn R. С (1976) Fluorescent Protein Tracing. Livingstone, Edinburgh.
12. Kraft, W. (1973) Leitz Techn. Inform., 2, 97.
Статьи по теме: | |
Несколько способов гадания на свадьбу: все карты Вам в руки
Для любой девушки очень волнительным и важным вопросом считается... Биография Ибрагим петрович ганнибал биография личная жизнь
Прадед прославленного российского поэта Александра Пушкина Абрам... Пороки сердца - лечение народными средствами
Неизвестное всегда, как минимум, настораживает или его начинают бояться,... |